패리티 생성기 및 체커

제조업체 시리즈 패키지/케이스 패키징 제품 상태 논리 유형 회로 수 전류 - 출력 높음, 낮음 전압 - 공급 작동 온도 등급 자격 장착 유형 공급자 장치 패키지

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결과

패리티 생성기 및 검사기

패리티 생성기 및 검사기는 디지털 시스템에서 패리티 비트를 생성하고 데이터 무결성을 확인하는 데 사용되는 로직 IC입니다. 데이터 전송 또는 저장 오류를 감지하는 데 도움을 주며 데이터 버스, 메모리 시스템, 통신 인터페이스, 산업 제어 장비, 컴퓨팅 플랫폼, 자동차 전장, 임베디드 애플리케이션에서 널리 사용됩니다.

TomatoElec는 독립 전자 부품 유통업체로서 Texas Instruments, Nexperia, onsemi, STMicroelectronics, NXP, Diodes Incorporated, Toshiba, Renesas, Microchip, Analog Devices 등 주요 제조사의 패리티 생성기 및 검사기 IC를 공급할 수 있습니다. 고객은 아래 제품 목록에서 inventory, price, package, specifications, parameters and PDF datasheets를 확인하고, BOM 또는 RFQ를 제출하여 패리티 생성기 및 검사기 소싱 문의를 진행할 수 있습니다.

사진 제조사 부품 번호 재고 상태 가격 수량 데이터시트 시리즈 패키지/케이스 패키징 제품 상태 논리 유형 회로 수 전류 - 출력 높음, 낮음 전압 - 공급 작동 온도 등급 자격 장착 유형 공급자 장치 패키지
N74F280BD,602

N74F280BD,602

IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SO

NXP USA Inc.

0 -
RFQ
N74F280BD,602

데이터시트

74F 14-SOIC (0.154", 3.90mm Width) Tube Obsolete Parity Generator/Checker 9-Bit 1mA, 20mA 4.5 V ~ 5.5 V -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 14-SO
N74F280BN,602

N74F280BN,602

IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

NXP USA Inc.

0 -
RFQ
N74F280BN,602

데이터시트

74F 14-DIP (0.300", 7.62mm) Tube Obsolete Parity Generator/Checker 9-Bit 1mA, 20mA 4.5 V ~ 5.5 V -40°C ~ 85°C - - Through Hole 14-DIP
74HC280N,652

74HC280N,652

IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

NXP USA Inc.

0 -
RFQ
74HC280N,652

데이터시트

74HC 14-DIP (0.300", 7.62mm) Tube Obsolete Parity Generator/Checker 9-Bit - 2 V ~ 6 V - - - Through Hole 14-DIP
74HCT280DB,118

74HCT280DB,118

IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SSOP

Nexperia USA Inc.

0 -
RFQ
74HCT280DB,118

데이터시트

74HCT 14-SSOP (0.209", 5.30mm Width) Tape & Reel (TR) Obsolete Parity Generator/Checker 9-Bit - 4.5 V ~ 5.5 V - - - Surface Mount 14-SSOP
74HCT280N,652

74HCT280N,652

IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP

NXP USA Inc.

0 -
RFQ
74HCT280N,652

데이터시트

74HCT 14-DIP (0.300", 7.62mm) Tube Obsolete Parity Generator/Checker 9-Bit - 4.5 V ~ 5.5 V - - - Through Hole 14-DIP
1621B2UZZGR

1621B2UZZGR

INTEGRATED CIRCUIT BGA

Texas Instruments

0 -
RFQ

-

- - Bulk Obsolete - - - - - - - - -
CD54AC280F3A

CD54AC280F3A

9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/

Texas Instruments

0 -
RFQ
CD54AC280F3A

데이터시트

54AC 14-CDIP (0.300", 7.62mm) Tube Active Parity Generator/Checker 9 24mA, 24mA 1.5 V ~ 5.5 V -55°C ~ 125°C - - Through Hole 14-CDIP
SN74F280BNS

SN74F280BNS

PROTOTYPE

Texas Instruments

0 -
RFQ

-

74F 14-SOIC (0.209", 5.30mm Width) Tube Obsolete Parity Generator/Checker 9 1mA, 20mA 4.5 V ~ 5.5 V 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 14-SO
JM38510/32901BCA

JM38510/32901BCA

9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATORS

Texas Instruments

0 -
RFQ
JM38510/32901BCA

데이터시트

54LS 14-CDIP (0.300", 7.62mm) Tube Active Parity Generator/Checker 9 400µA, 4mA 4.75 V ~ 5.5 V -55°C ~ 125°C - - Through Hole 14-CDIP
SN74LS280NS

SN74LS280NS

PROTOTYPE

Texas Instruments

0 -
RFQ
SN74LS280NS

데이터시트

74LS 14-SOIC (0.209", 5.30mm Width) Tube Obsolete Parity Generator/Checker 9 400µA, 8mA 4.75 V ~ 5.25 V 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 14-SO
CD54HC280F3A

CD54HC280F3A

HIGH SPEED CMOS LOGIC 9-BIT ODD/

Texas Instruments

0 -
RFQ
CD54HC280F3A

데이터시트

54HC 14-CDIP (0.300", 7.62mm) Tube Active Parity Generator/Checker 9 5.2mA, 5.2mA 2 V ~ 6 V -55°C ~ 125°C - - Through Hole 14-CDIP
CY54FCT480BTLMB

CY54FCT480BTLMB

DUAL 8-BIT PARITY GENERATOR/CHEC

Texas Instruments

0 -
RFQ
CY54FCT480BTLMB

데이터시트

54FCT 28-CLCC Tube Active Parity Generator/Checker 8 12mA, 32mA 4.75 V ~ 5.25 V -55°C ~ 125°C - - Surface Mount 28-LCCC (11.43x11.43)
SN54LS280J

SN54LS280J

9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATORS

Texas Instruments

0 -
RFQ
SN54LS280J

데이터시트

54LS 14-CDIP (0.300", 7.62mm) Tube Active Parity Generator/Checker 9 400µA, 4mA 4.75 V ~ 5.5 V -55°C ~ 125°C - - Through Hole 14-CDIP
CD54ACT280F3A

CD54ACT280F3A

9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/

Texas Instruments

0 -
RFQ
CD54ACT280F3A

데이터시트

- 14-CDIP (0.300", 7.62mm) Tube Active Parity Generator/Checker 9 24mA, 24mA 4.5 V ~ 5.5 V -55°C ~ 125°C - - Through Hole 14-CDIP
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